清浄度測定の必要性

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清浄度測定の必要性　(イオン性汚染度測定)

PWB及び電子部品の品質管理

コスト削減のため、電子部品及びプリント配線板の海外調達は拡大しております。特に中国におけるプリント配線板(PWB)の生産は最大です。

ソルダーレジストが不完全硬化状態の製品、製造工程において付着したイオン性の汚れは外観では識別する事ができません。このような品質レベルの低下がイオンマイグレーション等の不具合の原因となります。　特に海外調達の電子部品及びプリント配線板(PWB)の受入検査は品質保証の必須条件です。

実装基板(PCA)

基板実装においては、従来は強力な無機塩素系活性剤の使用により、部品表面および基板表面の酸化膜を除去することで、拡散反応をスムーズにすることが出来ました。　しかし、基板の無洗浄化により、基板上に残った活性剤が腐食の原因物質として作用するために活性剤の活性力が低下せざるを得ません。

その結果、酸化物を除去する能力が低下し、はんだ接合そのものが不完全となる事例が見られます。　特に、高温多湿の海外実装工場で実装した基板で、はんだの濡れ不良による不具合が散見されます。

また、国内の面実装においても床面積の大きいLEDや、接合部のクリアランスの狭いLGAやQFN等の部品は、はんだ付け時にフラックスの溶剤が飛ばず、フラックスの活性成分が残る事が有ります。活性成分が残ると、温度が上昇し、イオンマイグレーション発生の原因となり絶縁劣化が発生します。

これらの不具合を未然に防ぐため、イオン残渣測定をお奨めします。

イオン残渣の測定機器推奨メーカーおよび製品

メーカー名：　米国SCS社　( Specialty Coating Systems )

製　品　名：　オメガメーターおよびイオノグラフ

　IPC-TM-650　2.3.25規格対応

　MIL-P-28809/55110認定機種

測定原理